JTAG-测试数据寄存器

1、问题：JTAG中的数据寄存器的结构

JTAG标准规定了两个必须的数据寄存器：

1、旁通寄存器

2、边界扫描寄存器（已经在可测性设计-扫描通路中介绍了）

可选的的寄存器有：

1、器件标示寄存器（32位）

2、旁通寄存器

TAP状态机在Capture_DR状态下捕获“0”，shift_DR状态下，输出输出Bypass寄存器状态0。

3、器件标示寄存器

其中最低位为1，与Bypass为0，是相对应的。这样，在单板上测试器件时，很容易识别有多少个器件。

根据IEEE1149.1，芯片上电开始，若有IDcode，则IDCODE指令移入指令寄存器，否则BYPASS指令移入指令寄存器。

所以单板测试时，需要识别器件的过程中：

1、TAP直接进入进入Select_DR_Scan状态，然后依次通过Capture_DR，Shift_DR状态。

2、从TDO移位出的数据，如果第一位为0，则表示，器件没有标示寄存器。如果第一位为1，则表示器件有标示寄存器，应该关注紧接着的31位数据。