INTEL SSD SMART 性能 E8 E9 转

如题
今天研究了一下怎么看Intel SSD Toolbox里边显示的Smart信息。
首先说，查看Intel SSD smart信息最好最方便的当然就是自家的工具箱，用其他工具查看不是不可以，但是很多数据要自己换算，很麻烦。
下边就把各个选项的意思写一下：

首先各项值分成三个：
Raw，原始值；Normalized，正态值，实际上就是有的值是一个相对量，就用这个还描述一个什么样的程度（比如说磨损了60%这样）；threshold，临界值，对于某些项目超过这个值会有不幸的事情发生了

03：硬盘磁头加载时间
这个SSD没有，所以没意思。这个值是固定的，0

04：启停时间
这个也没意义，固定为0

05：重映射扇区数量
这个机械硬盘用户非常敏感的。实际上对于闪存来说，他的寿命是正态分布的，说是MLC能写入10000次以上，实际上说的是写入10000次之前不会发生“大量损坏”，某些位可能写入几十次就坏掉了。换言之，闪存坏掉是很正常的。Intel在制造固态硬盘的时候保留了一定的空间，当某块闪存出现问题之后即把坏的隔离掉，用好的来顶替。凡是闪存设备都存在这个问题，没必要大惊小怪的。这个值随着使用会不断增长的，只要增长的速度OK就好了。
50nm的盘（一代）要看Normalized值。这个值初始是100。当出现重映射扇区的时候这个不会立即变化，一直到3个扇区。一旦重映射达到4个扇区，这个变为1，之后每增加4个Normalized值+1。也就是，100对应的0-3个扇区，1对应4-7个扇区，2对应8-11个扇区，3对应12-15扇区，以此类推……
34nm的盘（二代）直接看Raw值，是多少就对应多少个重映射扇区。

09：通电时间
这个看Raw值，是多少就是多少小时。

0C：电源循环此时
这个就是经历了几次开机和关机。一次开关机+1。直接看Raw值。

C0：不安全关机次数
正常关机的时候电源会给硬盘一个通知，叫做STANDBY IMMEDIATE，就是把缓存数据迅速写入之后边上歇着，准备断电了。如果没有这个通知，就直接没电，那就是不安全的。不过SSD里边有电容，可以保证在紧急断电的情况下也能把数据安全的写到闪存里边。所以没必要担心。这个直接看Raw值。

E1：主机写入数据量
固态硬盘在写入的时候会消耗闪存，所以这个SSD会统计的。这个看Raw值，每写入65,536个扇区，这个值+1，所以用什么HDTune、Sandra之类的软件查SMART的可以自己算。SSD工具箱就是直接给你算好了，这个很简单，直接看是多少就好了。

E8：可用的预留闪存数量
前边05项说了，Intel SSD里边会保留一些容量来替换坏掉的闪存，所以这个值是非常重要的。当保留的闪存用光了，再出现坏掉的块的时候那这个硬盘就要结束寿命了。所以看05项没什么意义，盯住这个就对了。这个看Normalized值，新的盘所有的预留空间都在，所以是100。随着预留空间的消耗，这个值不断减小，减小到Threshold值10的时候，盘就完蛋了。实际上预留的空间很多，所以尽管放心用就好了啊

E9：闪存磨耗指数
前边05也一定说了，闪存写入次数是有限的，当到达一定值的时候，就会出现大量坏掉，这时候预留闪存就顶不住了，之后盘就会挂掉。所以这个实际上是SSD的年龄，而E8相当于健康状况。就是健康状况OK，到了年纪大了，也很容易突然健康急剧恶化死掉；反之，如果年纪轻轻健康很差的话，也是有较大的可能挂掉的。这个看Normalized值，从新的盘100，随着使用逐渐减小到1。之后就不会减少了，但是Intel表示SSD也不一定就挂掉，因为用户有可能踩到运气，赶上闪存体质好，所谓老而不死。

B8：点到点错误探测值
SSD里边有一个LGA (logical block addressing)，就是给OS看的逻辑扇区和实际的闪存地址之间的对应表。只有34nm的盘有这一项。这个看Normalized值。Intel资料没有说明具体含义，个人推测会从100减少，如果有搞清楚的还请指教。

所以呢，关键就是看E8和E9项。只要这两个OK，SSD就是年轻力壮的。

附一个我的x25-m的状态给大家看：