如果我们的MCU调试不通过，我们该如何测试？（未完待续）

我们拿到一款MCU，首先在选型的时候对他们都会有一个大概的了解，首先我们知道它多大与的FLASH，多大的RAM,是否与我们的项目适合，资源上是否足够，内频是否足够，运行速率能否达到标准，性能怎么样，比如抗静电干扰，高温，潮湿的环境，寒冷，对芯片本身的影响，还有如何焊接几层板，成本，是否易于开发，这里分为软件和硬件来说明一下：

首先说一下硬件：

一般最小系统+外围模块，几伏供电，供电等级，电压等级（其实这个M0等也会涉及），原理图的设计，元器件的选型，元器件的布局，布线更是一门大学问，甚至有些特殊场合，硬件对性能有非常严格的要求，比如说抗静电干扰，电磁感应等。（后面我会重新补充更新这一块）

静电感应干扰是累积电荷高电压放电的电击现象。干扰表现是非持续性的，但是可以对电子设备造成永久性损害。用静电计可以测到。可以用抗静电措施与接地等方法消除。
电磁感应干扰是混进信号通路的杂波，会使信号波形产生大量毛刺，甚至严重到使波形发生畸变。干扰表现是持续性的，但是通常不会是永久性损害。一般通过电磁屏蔽隔离措施与接地等方法消除。

然后是软件：

软件其实就是配置寄存器，再配置寄存器的过程中需要参考手册，学会看手册，看手册也是一门学问，比如说SPI的配置，首先看他选择了那几个引脚，然后配置成了什么模式，选择了那个时钟源，然后如何与外部器件进行通讯，外部器件的规格，这里有需要看SPIFLASH的型号和它对应的手册，不过好在现在有很多MCU里有库函数，省去了很多麻烦。

那么我们该如何测试呢?

首先要看懂代码，明白他想要做什么，然后看它问题是出在哪？引脚，时钟，模式，寄存器的配置，很多问题都出现在这，因为32位机的资源，寄存器很多，如果没有参考手册，一般什么都做不了，但是既然出现了问题，就要解决问题，好在现在大多数集成开发环境已经具有了调试，仿真的功能，还有示波器，电压表，逻辑分析仪等配合分析解决问题的工具，出现问题切记不要欺骗自己，不要得过且过，我承认换一种方法是达到效果的捷径，但你一定要明白，为什么这么做不可以？为什么？这样你又能多明白一种道理，比如选取晶振为时钟源，但是他不工作，换一个内部时钟，达到了效果，但是我们也要知道，为什么绕过它就行，而使用它就不行呢？是不是因为它坏掉了，或者说它并不能做这个接口的时钟？为了验证我的猜测，我把所有例程都选择晶振为时钟都跑了一遍，发现没有一个能够工作的，然后，基本可以确定它确实是坏掉了，然后进行下一步的测试，用示波器观察它是否起振，结果跟预计的一样，它不起振，确实是坏掉了，还有一种问题，纯粹是软件的问题，这种验证方法，有引脚的可以测引脚，没有引脚的，可以仿真调试，实在不行那就凭借自己强大的大脑去思考，分析验证，一遍一遍的尝试，观察现象，比如一个定时器进不去中断，我们可以用调试，仿真的办法进行验证，然后查看手册，分析原因，查看库函数，调用，结果发现是一个定时器的标志位起了冲突，还有一个串口问题，也是标志位的错误，分析问题前提是弄懂问题，熟悉你手上的东西，还有一个问题是关还没有于库函数的问题，问题已经解决，但我目前还没弄懂，无法解释，明天有时间，我再看看，熟练使用工具，熟悉你手中的MCU，然后用各种验证方法，计算也好，分析也好，替代也好，总之，解决问题，和为什么会出现这种问题，搞懂，你就会少走很多弯路，会有很大的成长。