C语言 · 芯片测试

基础练习 芯片测试  

时间限制：1.0s   内存限制：512.0MB

  

问题描述

　　有n（2≤n≤20）块芯片，有好有坏，已知好芯片比坏芯片多。
　　每个芯片都能用来测试其他芯片。用好芯片测试其他芯片时，能正确给出被测试芯片是好还是坏。而用坏芯片测试其他芯片时，会随机给出好或是坏的测试结果（即此结果与被测试芯片实际的好坏无关）。
　　给出所有芯片的测试结果，问哪些芯片是好芯片。

输入格式

　　输入数据第一行为一个整数n，表示芯片个数。
　　第二行到第n+1行为n*n的一张表，每行n个数据。表中的每个数据为0或1，在这n行中的第i行第j列（1≤i, j≤n）的数据表示用第i块芯片测试第j块芯片时得到的测试结果，1表示好，0表示坏，i=j时一律为1（并不表示该芯片对本身的测试结果。芯片不能对本身进行测试）。

输出格式

　　按从小到大的顺序输出所有好芯片的编号

样例输入

3
1 0 1
0 1 0
1 0 1

样例输出

1 3

 

 #include<stdio.h>
 #include<string.h>

 int a[][];
 int main()
 {
     int n;
     scanf("%d",&n);
     for(int i=;i<=n;i++)
     {
         for(int j=;j<=n;j++)
             scanf("%d",&a[i][j]);
     }
     int j;
     for(int i=;i<=n;i++)
     {
         int s=;
         for(j=;j<=n;j++)
         {
             s+=a[j][i];//代表有一半以上的芯片同意了此芯片是好的芯片，所以此芯片一定是一个好的芯片
         }
         if(s>n/)
         {
             printf("%d ",i);
         }
     }
     printf("\n");
     return ;
 }