一般现在多用的都是offline BIST的架构,可以分为4大类: 1)those assume no special structure to the circuit under test; 2)those that make use of scan chains in the circuit under test; 3)those that configure scan chains for test pattern generation and output reponse analysi…
Logic BIST is crucial for many applications, in particular for life-critical and mission-critical applications. Logic BIST不需要在ATE上进行测试,减小了成本,但是电路本身是可能存在问题的,导致测试逻辑有问题而且增加了逻辑. Basic concepts and design rules of logic BIST Test pattern generation(exhaus…
ATE:ATE是Automatic Test Equipment的缩写,根据客户的测试要求.图纸及参考方案,采用MCU.PLC.PC基于VB.VC开发平台,利用TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技术开发.设计各类自动化测试设备. BIST:BIST是在设计时在电路中植入相关功能电路用于提供自我测试功能的技术,以此降低器件测试对自动测试设备(ATE)的依赖程度.BIST技术的快速发展很大的原因是由于居高不下的ATE成本和电路的高复杂度.现在,高度集成的电路被…
Logic BIST通过将很多的tester functionality放在CUT中,减少了test costs,但是更重要的一方面是at-speed testing. At-speed test包括两部分: 1) intra-clock-domain fault:originates at one clock domain, terminate at the same clock domain 2) inter-clock-domain fault:originates…