转 STM32内部参照电压VREFIN的使用 https://blog.csdn.net/uncle_guo/article/details/50625660 每个STM32芯片都有一个内部的参照电压,相当于一个标准电压测量点,在芯片内部连接到ADC1的通道17.   根据数据手册中的数据,这个参照电压的典型值是1.20V,最小值是1.16V,最大值是1.24V.这个电压基本不随外部供电电压的变化而变化.   不少人把这个参照电压与ADC的参考电压混淆.ADC的参考电压都是通过Vref+提供的.

一.本实验ADC 配置 分辨率:10 位. 输入通道:5,即使用输入通道AIN5 检测电位器的电压. ADC 基准电压:1.2V. 二.NRF51822 ADC 管脚分布 NRF51822 的ADC 共有8 个输入通道,对应的管脚分布入下图: 三.NRF51822 ADC 原理 NRF51822 的ADC 比较简单,如下图所示. 3.1.ADC 通道及预分压系数 NRF51822 的ADC 共有8 个输入通道,在使用ADC 时,要设定ADC 的输入通道.本实验中,因为连接电位器的管脚是P0.04

利用基准电压效正Vcc做参考电压的ADC采样计算方法

问题描述通过 uint16_t ConvData[8]保存DMA搬运的ADC转换数值,但是这个数组数值的顺序总是和ADC不是顺序对应的.比如用7个通道的ADC,当设置ADC_InitStructure.ADC_ScanDirection = ADC_ScanDirection_Backward,是对应顺序是:0->0,1->7,2->6…7->1 : 当设置ADC_InitStructure.ADC_ScanDirection = ADC_ScanDirection_Upward,

转自:http://bbs.dzsc.com/space/viewspacepost.aspx?postid=86760 摘要:逐次逼近寄存器型(SAR)模数转换器(ADC)占据着大部分的中等至高分辨率ADC市场.SAR ADC的采样速率最高可达5Msps,分辨率为8位至18位.SAR架构允许高性能.低功耗ADC采用小尺寸封装,适合对尺寸要求严格的系统. 本文说明了SAR ADC的工作原理,采用二进制搜索算法,对输入信号进行转换.本文还给出了SAR ADC的核心架构,即电容式DAC和高速比较器.

一.模数转换的一般步骤: 1)采样和保持 为了把模拟信号转换成对应的数字信号,必须首先将模拟量每隔一定时间抽取一次样值,使时间上连续变化的模拟量变为一个时间上断续变化的模拟量,这个过程称为采样. 为了保证采样后的信号能恢复原来的模拟信号,要求采样的频率fs与被采样的模拟信号的最高频率fimax应满足下面关系:fs≥2fimax 2)量化和编码 数字信号不仅在时间上是离散的,而且数值大小的变化也是不连续的. 这就是说,任何一个数字量的大小只能是某个规定的最小数值的整数倍. 而采样-保持所得的电压信

SAR型 (逐次逼近型) 摘要:逐次逼近寄存器型(SAR)模数转换器(ADC)占据着大部分的中等至高分辨率ADC市场.SAR ADC的采样速率最高可达5Msps,分辨率为8位至18位.SAR架构允许高性能.低功耗ADC采用小尺寸封装,适合对尺寸要求严格的系统. 本文说明了SAR ADC的工作原理,采用二进制搜索算法,对输入信号进行转换.本文还给出了SAR ADC的核心架构,即电容式DAC和高速比较器.最后,对SAR架构与流水线.闪速型以及Σ-Δ ADC进行了对比. 引言 逐次逼近寄存器型(SAR

1.为实现二进制搜索算法,N位寄存器首先设置在中间刻度(即:100... .00,MSB设置为1).这样,DAC输出(VDAC)被设为VREF/2,VREF是提供给ADC的基准电压.然后,比较判断VIN是小于还是大于VDAC.如果VIN大于VDAC,则比较器输出逻辑高电平或1,N位寄存器的MSB保持为1.相反,如果VIN小于VDAC,则比较器输出逻辑低电平,N位寄存器的MSB清0.随后,SAR控制逻辑移至下一位,并将该位设置为高电平,进行下一次比较.这个过程一直持续到LSB.上述操作结束后,也就

上一次简单的总结了一下DAC方面的知识,好吧,这次再来总结一下ADC方面的东东.ADC即Analog-to-Digital Converter的缩写,指模/数转换器或者模拟/数字转换器.现实世界是由模拟信号组成的,关于为什么要用模数转换器,这大概与现在数字存储技术有关吧,例如温度.压力.声音或者图像等只有转换成数字量才能方便的存储在硬盘.U盘等数码存储介质中,或许某天我们的技术发展了,数字存储可以用某些模拟量存储,也许我们就用不着这么麻烦的转来换去了.好了,闲话不多扯,来简单总结一下ADC的原理

源:使用STM8SF103 ADC采样电压 硬件环境: STM8SF103 TSSOP20封装 因为项目需要用到AD采样电池电压,于是便开始了使用STM8S ADC进行采样,也就有了下文. 手册上对STM8S ADC的管脚描述如下: STM8SF103这款芯片是TSSOP 20管脚封装,如下: STM8SF103这款芯片能用的是5个AD采样通道,分别是AIN2~AIN6.其实是还有一个通道AIN7,但手册并没有对其描述. 这里还有一个很奇怪的地方,从ST资料中找到一个与上面的表数据不同的地方,如

如何利用单片机的ADC模块(或者独立的ADC芯片)得到接入ADC管脚上的实际电压值?这个问题,是第一次接触ADC时候,大家都会遇到的问题.会读到什么值单片机会读到什么值?需要看一个特性,就是几位的ADC,在手册上就会给出,例如,STM32的ADC是12位的.另外,还有8位,10位,16位,24位等.我先告诉你答案:STM32读到的ADC值,是从0到4095,当你把ADC引脚接了GND,读到的就是0,当你把ADC引脚接了VDD,读到的就是4095.接下来告诉你为什么:前面提到,STM32的ADC是

采集时间 采集时间是从释放保持状态(由采样-保持输入电路执行)到采样电容电压稳定至新输入值的1 LSB范围之内所需要的时间.采集时间(Tacq)的公式如下: 混叠 根据采样定理,超过奈奎斯特频率的输入信号频率为“混叠”频率.也就是说,这些频率被“折叠”或复制到奈奎斯特频率附近的其它频谱位置.为防止混叠,必须对所有有害信号进行足够的衰减,使得ADC不对其进行数字化.欠采样时,混叠可作为一种有利条件. 孔径延迟 ADC中的孔径延迟(tAD)是从时钟信号的采样沿(下图中为时钟信号的上升沿)到发生采样时

是采样速率低于5Msps (每秒百万次采样)的中等至高分辨率应用的常见结构. SAR ADC的分辨率一般为8位至16位,具有低功耗.小尺寸等特点. 这些特点使该类型ADC具有很宽的应用范围,例如便携/电池供电仪表.笔输入量化器.工业控制和数据/信号采集等. 顾名思义,SAR ADC实质上是实现一种二进制搜索算法. 所以,当内部电路运行在数兆赫兹(MHz)时,由于逐次逼近算法的缘故,ADC采样速率仅是该数值的几分之一. SAR ADC的架构 尽管实现SAR ADC的方式千差万别,但其基本结构非常简

对于ADC采集,想问的一些问题 1.如何初始化? 需要初始化 2.哪里可以看到是多少位采集? 3.8位ADC采集的误差是多少? 4.基准电压从哪里取?

单片机的基准电压一般为3.3V,如果外部信号超过了AD测量范围,可以采用电阻分压的方法,但是要注意阻抗匹配问题.比如,SMT32的模数输入阻抗约为10K,如果外接的分压电阻无法远小于该阻值,则会因为信号源输出阻抗较大,AD的输入阻抗较小,从而输入阻抗对信号源信号的电压造成分压,最终导致电压读取误差较大. 因此对于使用单片机读取外部信号电压,外接分压电阻必须选用较小的电阻,或者在对功耗有要求的情况下,可选用大阻值的电压分压后,使用电压跟随器进行阻抗匹配(电压跟随器输入阻抗可达到几兆欧姆,输出阻抗为

模数转换器即A/D转换器,或简称ADC,通常是指一个将模拟信号转变为数字信号的电子元件.通常的模数转换器是将一个输入电压信号转换为一个输出的数字信号.由于数字信号本身不具有实际意义,仅仅表示一个相对大小.故任何一个模数转换器都需要一个参考模拟量作为转换的标准,比较常见的参考标准为最大的可转换信号大小.而输出的数字量则表示输入信号相对于参考信号的大小. 简介 将模拟信号转换成数字信号的电路,称为模数转换器(简称a/d转换器或adc,analog to digital converter),A/D转

笔者最近在做的一个项目中,用到一片16位的高分辨率的芯片,借此再学习一下由于ADC和DAC的相关知识,以此巩固. 关于ADC的精度和分辨率将在另外一篇博客讨论,分辨率不等于精度. 一块精度0.2%(或常说的准确度0.2级)的四位半万用表,测得A点电压1.0000V,B电压1.0005V,可以分出B比A高0.0005V,但A点电压的真实值可能在0.9980~1.0020之间不确定. 那么,既然数字万用表存在着精度和分辨率两个指标,那么,对于ADC和DAC,除了分辨率以外,也存在精度的指标.模数器件

LM35是美国国家半导体(后被TI收购)推出的精密温度传感IC系列,其信号输出方式为模拟输出,输出电压值与摄氏温度值呈正比,且用户不需额外的校正就能获得较高的测量精度.其主要特性有: 供电电压:4~30V 测量范围:与芯片相关,单个正电源供电时最大+2~+150°C 测量精度:与芯片.测量温度有关,如下图.可见室温附近误差典型值大约在+/-0.5°C,最大值在+/-0.5°C到+/-1.5°C不等.本文中使用的LM35D是精度最差的芯片,误差最大值约+/-1.5°C. 功耗:与测量电路.温度有关

前言 前段时间调试 STM32F030 的 ADC,在多通道转换时遇到了奇怪的问题,使用官方的例程和库函数连续转换多个 ADC 通道,得到的几个通道的结果是一样的,解决办法参考了 关于STM32F0系列多路ADC单独采样数据相同问题的处理,在此表示感谢. 记录 在官方库的例程 ADC_BasicExample 中的初始化和转换方法如下 ADC_InitTypeDef ADC_InitStructure; GPIO_InitTypeDef GPIO_InitStructure; /* GPIOC

文本仅做记录.. 硬件:STM32F103VCT6 开发工具:Keil uVision4 下载调试工具:ARM仿真器 网上资料很多,这里做一个详细的整合.(也不是很详细,但很通俗).  所用的芯片内嵌3个12位的模拟/数字转换器(ADC),每个ADC共用多达16个外部通道,2个内部通道. 3个:代表ADC1.ADC2.ADC3(下图是芯片固件库的截图)    12位:也叫ADC分辨率.采样精度.先来看看二进制的12位可表示0-4095个数,也就是说转换器通过采集转换所得到的最大值是4095,如: