转 STM32内部参照电压VREFIN的使用 https://blog.csdn.net/uncle_guo/article/details/50625660 每个STM32芯片都有一个内部的参照电压,相当于一个标准电压测量点,在芯片内部连接到ADC1的通道17.   根据数据手册中的数据,这个参照电压的典型值是1.20V,最小值是1.16V,最大值是1.24V.这个电压基本不随外部供电电压的变化而变化.   不少人把这个参照电压与ADC的参考电压混淆.ADC的参考电压都是通过Vref+提供的.

STM32的ADC转换还是很强大的,它具有多个通道选择,这里我就不细说,不了解的可以自行百度,这里只是选取单通道,实现ADC转换.在文章开始之前,我说一下数据左对齐跟右对齐的差别,以前一直糊里糊涂的,记录下来以免以后自己忘记.12位二进制最大值为 0x0FFF 左对齐操作后的结果是 0xFFF0,右对齐后还是0x0FFF.反过来看 ,若寄存器里左对齐的数据值X (相当于实际数据*16,所以左对齐转换的值要/16才是实际的值),则X>>4才是实际的数据.而右对齐,则是数据保持不变,采集到多少就多

1. STM32F405没有参考电压的输入引脚,那么可能是接的VDDA和VSSA 2. 看下文档的说明

我造轮子,你造车,创客一起造起来!塔克创新资讯[塔克社区 www.xtark.cn ][塔克博客 www.cnblogs.com/xtark/ ]      本文介绍X-CTR100控制器 AD转换接口的使用,采集模拟信号及芯片温度. 原理 处理器STM32F407具有3个ADC,12位逐次逼近型,具有19个ADC检测通道,可测量16个外部源.2个内部源和VBAT电压,最大转换速率为2.4MHz. STM32F4芯片内部具有温度传感器,连接ADC1_IN16通道,通过ADC实现温度采集,温度传感

这几天一直在使用STM32来写sensorless BLDC的驱动框架,那么必须会用到TIM1的CCR1/CCR2/CCR3产生的六路互补PWM,以及用CCR4来产生一个中断,用来在PWM-ON的时候产生中断进行过零检测,以及相电流的检测等. 这几天一直在测试PWM,CCR4的中断,ADC1的采样触发+DMA等功能,现在也了解的差不多了,先记录下来,先看下我的一些设置,TIM1设置: /* Time Base configuration ,init time1 freq*/ TIM_TimeBa

今天要做的是ADC单通道DMA采集实验 MCU : STM32F429 开发工具:STM32CubeMx 版本号 5.0.0 实验目的:实现ADC1 13通道 DMA采集 一 :简介 首先,我们来看一下STM32F4XX参考手册里关于该芯片的ADC功能介绍 二:STM32CubeMx 配置 数据对齐方式 为 右对齐 使能 连续转换模式,DMA连续请求 设置采样次数 为 3个周期 配置 DMA Mode设置为Circular模式,数据宽度设置为Half Word  2个字节 设置好之后,点击GEN

在使用ST MCU开发过程中,有人问如果电源电压是变动的,询问有无办法用比较简洁的办法对电源电压进行监测,或者说电源电压波动情况下能否检测出其它待测的AD输入电压. 这里跟大家分享交流一个方法.就是在没有其它外来参考电压,用芯片电源电压VDD作为ADC的参考电压,同时该电源电压又在一定范围内变动的情况下[这个范围就是在保证芯片正常工作的范围],利用MCU芯片内部自带基准电压对电源电压进行监测. 在我印象中[ST MCU系列和型号太多了,记不住],几乎每颗ST MCU芯片内部都有个相对稳定且不受电

  最近需要用到两个ADC对电压电流进行同步采样,看了一下STM32的ADC介绍,发现STM32最多有3个独立ADC,有在双AD模式下可以进行同步测量,正好满足我的要求.参考官方给的例子在结合自己的需要写了一下配置程序. 程序1 根据官方例子写的: #include"adc.h" __IO uint32_t ADC_DualConvertedValueTab[ADC_BufferLength]; void ADC1_2_Init(void) { ADC_InitTypeDef ADC_

Ⅰ.概述 上一篇文章讲述的内容是:三通道逐次转换(单次.单通道软件触发),也就是说3条通道要三次软件触发才能完成转换,而且是通过软件读取转换数值. 本文讲述三通道DMA连续转换(3通道.软件单次触发),也就是说3条通道只需要一次软件触发就能完成转换,使用DMA保存在数值. 上一篇文章实例是使用间断模式单次触发单条通道采集,本文是使用DMA模式单次触发三条通道采集.使用DMA传输的好处就是效率很高,我们直接读取转换的结果就是了,比如想做的示波器实例就是要求效率很高. 实例实验效果: 本文的实验效果

Ⅰ.概述 本文讲述关于STM32功能比较强大的ADC模块.ADC(Analog to Digital Converter)也就是模拟量转化为数字量,而STM32的ADC模块功能比较多,本文主要讲述“三条通道逐次转换(单次.单通道软件触发)”. 根据笔者的经验,STM32所有系列芯片的ADC模块功能及配置都差不多.因此,本文虽是以F1为例,其实其他系列(F0.F2.F4等)都适用. 本文提供实例代码:三条通道,配置为逐次转换(间隔模式),适用软件触发转换(每触发一次转换一条通道),一个循环也就是需

1. ADC概述(STM32F4xx系列) 3 个 ADC 可分别独立使用 也可使用双重/三重模式(提高采样率) 2 个通道组 规则通道:相当于正常运行的程序 注入通道:相当于中断(可以打断规则通道的转换) 转换模式分为 单次.连续.扫描.间断模式 位数 12位模拟数字转换器 结果左对齐或右对齐,存在16位数据寄存器中 2. 规则通道 & 单次转换模式 过程 转换结束时: 转换结果将被存在 ADC_DR 寄存器中 EOC(转换结束)标志将被置位 如果设置了 EOCIE,则会产生中断 要配置哪些

版权声明:本文为博主原创文章,未经博主允许不得转载. https://blog.csdn.net/zouleideboke/article/details/75112224 ADC简介: ADC(Analog-to-Digital Converter,模/ 数转换器).也就是将模拟信号转换为数字信号进行处理,在存储或传输时,模数转换器几乎必不可少. STM32在片上集成的ADC外设非常强大,我使用的奋斗开发板是STM32F103VET6,属于增强型的CPU,它有18个通道,可测量16个外部和2个

1.问题 1)10位ADC的误差是多少? 首先要分清分辨率与精度的区别. 10cm的尺子,有100个等分刻度,则该尺子的分辨率为1mm. 但不能说这把尺子的精度是1mm. 在冬天,尺子会热胀冷缩,依然有100格刻度,每格刻度代表1mm,但每格刻度与真实的1mm是不同的,精度在变化. 实际上,10位的ADC将会把基准电压分成1024份,分辨率为:基准电压/1024. 2)ADC的采样频率是多少? 芯片开发手册上转换时间公式为: 例子中,采样频率为1MHz. 3)STM32F103这款芯片有多少个A

嵌入式系统在微控制领域(温度,湿度,压力检测,四轴飞行器)中占据着重要地位,这些功能的实现是由微处理器cpu(如stm32)和传感器以及控制器共同完成的,而连接他们,使它们能够互相正常交流的正是本小节要讲诉的模块,ADC模数转换外设.下面从最简单的实验说起,逐渐深入了解这个外设. 本次ADC模数转换设计实现并不复杂,步骤可简化为以下三步: 1. 接收板上电位器的输入电压 2. 经过A/D转换获得数字量,并传送给cpu 3. 通过串口在PC机上输出. 解析上面三个步骤,分析要求,就会发现ADC.G

DSP28377S -  ADC学习编程笔记 彭会锋 2016-08-04  20:19:52 1 ADC类型导致的配置区别 F28377S的ADC类型是Type 4类型,我的理解是不同类型的ADC采样方式是不一样的:F28335ADC 采样序列可以配置为顺序采样和同步采样模式,而F28377S采样序列可以配置为round-robin or burst模式,这两种模式下面再讲解. 2 ADC上电配置步骤 首先明确一点,ADC是专用管脚,不需要配置GPIO,所以可以直接配置ADC的寄存器 //Wr

DSP基础学习-ADC同步采样 彭会锋 2015-04-28 20:31:06 在DSP28027 LauchPad学习过程中,关于ADC同步采样和顺序采样的区别稍加研究了一下,发现里面还真有些门道,所以写了这篇文章,主要针对ADC同步采样的两个不同概念进行相关的解释说明,理论和具体的理解都有在里面,较为详细,可以作为基础知识加深了解! 参考文献: http://pan.baidu.com/s/1gd1Xg6v TMS320C28X处理器在交流采样中的应用(这是一篇论文,针对多通道同步采样和交流

Hi3518EV200平台ADC多通道采样流程 Hi3518EV200 ADC 本文针对Hi3518EV200平台处理器,通过ADC单次采样方式,实现对多通道(1~4通道)ADC进行采样控制.本文仅仅是对Hi3518EV200芯片ADC的用法的介绍,不涉及ADC具体的工作原理.转换原理等细节内容.废话不多说,直入正题! Hi3518EV200芯片ADC模块简介: 特性: 电源电压:3.3V 扫描频率不能高于200K/s 独立通道:4路 特点: 支持单次启动,每次扫描一个通道,不滤毛刺,提供中断以

最近在搞ADC,网上还是很多资源的,以下为参考链接:1.对STM32 ADC单次转换模式 连续转换模式 扫描模式的理解:https://www.cnblogs.com/zhanghankui/p/5192324.html/2.STM32F103ADC的工作模式和触发方式的探索与理解:http://www.stmcu.org.cn/module/forum/thread-598744-1-1.html3.STM32 ADC单通道与多通道_DMA学习笔记:https://blog.csdn.net/

为了熟悉定时器定时器和ADC 用STM32F407DIS做了一个简单的工程: 通过高级定时器TIM1溢出更新时间作为触发输出信号(TRGO),触发TIM8开始计数: 同时TIM1的通道1.2.3以及分别的互补通道输出6路PWM波用于控制三相电机: TIM1的通道4用于触发ADC1的注入通道: TIM8的通道1用于触发三个ADC的的规则通道: TIM8的通道2用于触发ADC2的注入通道: 最后采样结果通过DMA传输到数组内保存起来: 为此,绘制了程序框图: 由框图来看工程更加清晰,更便于理解: 接

采集时间 采集时间是从释放保持状态(由采样-保持输入电路执行)到采样电容电压稳定至新输入值的1 LSB范围之内所需要的时间.采集时间(Tacq)的公式如下: 混叠 根据采样定理,超过奈奎斯特频率的输入信号频率为“混叠”频率.也就是说,这些频率被“折叠”或复制到奈奎斯特频率附近的其它频谱位置.为防止混叠,必须对所有有害信号进行足够的衰减,使得ADC不对其进行数字化.欠采样时,混叠可作为一种有利条件. 孔径延迟 ADC中的孔径延迟(tAD)是从时钟信号的采样沿(下图中为时钟信号的上升沿)到发生采样时