scan design rules

为了更好的设计一个scan design，一些scan design的rule必须遵循。

1)tristate bus在shift mode下必须保持bus contention；

2)bidirectional IO port在shift mode下，必须force在input或者output；

3)gated clock在shift mode下，必须保证enable；

4)derived clock在shift和capture mode下，最好保持bypass；

5)combinational的feedback，在shift和capture mode下，应该break；

6)async的set/reset，在shift和capture mode下，最好使用external pin；

7)clock drive data，在shift和capture mode下，最好进行block；

8)Floating buses，在shift和capture mode下，增加bus keeper；

tristate buses：

ATPG可以保证在capture mode下，不会有两个drive控制一个bus的情况，但是在shift mode下，

并没有这样的保证，所以要求在shift mode下，bus contention不变。

而且一个没有pull-up/pull-down/bus-keeper的bus，也会导致fault coverage loss，因为一个floating bus

是不可预测的，不能进行stuck-at 1的测试。所以pull-up/pull-down/bus-keeper的bus推荐设计。

bidirectional IO port：

在一个capture operation中，bidirectional IO会被指定为input/output，但是在shift operation上，

需要多加控制。

Gated clock：

clock gate的enable端口，同样不能在进行shift mode下，在0与1之间多次变化。

可以使用SE或TM信号控制。

Derived clock：

一个derived clock是指从一个storage element和一个clock generator(PLL,frequence divider,pluse generator)

在整个的test过程中，这些clock必须是bypass的。

Combinational Feedback loops：

当inversion的个数是奇数时，输出形成oscillation，

当inversion的个数是偶数时，输出形成sequential behavior，

在进行test的过程，需要保证loop中的value是controlled，所以需要接爱如逻辑:

Async set/reset signals：

async set/reset不能由primary input直接控制，可能影响shift data的合理操作，所以要求，在shift operation

中，这些信号被force为inactive。

使用TM信号会导致，这些reset/set信号在test过程中，不能被测试到，

使用SE信号可能会使得clock这些set/reset之间造成竞争。