Test Compress

EDT：Embedded Deterministic Test。

包括的逻辑：Decompressor和Compactor

Masking logic

Addictional shift cycle(initialization, masking, lower-power bits)

Lockup cells和pipeline stages

在ATPG部分可以做的compression

1)Standard techniques

Static compression-----------移除一些redundant patterns

Dynamic compression--------在同一个pattern中，测试几个faults targets

2)Advanced ATPG

Multi-clock compression

Domain analysis

Algorithm enhancements

Optimized pattern orders

EDT通过对ATPG产生的Deterministic pattern的并行化处理，来处理。

EDT推荐更短的scan chain，更少的shift cycle

操作波形：

lock_up cell的插入：

1)保证shift 操作的正确性，一个cycle 一个data

2)在其他的操作中，可以节约一个clock cycle，因为它用的下降沿。