【公开课】芯片ATE测试—93K机台与Smartest软件介绍

当前，随着中国集成电路产业的高速发展，芯片测试作为确保产品良率与可靠性的关键环节，其技术人才缺口日益凸显。尤其在测试设备操作层面，行业普遍面临两大痛点：

• 一方面，高端ATE测试平台（如93K系统）操作复杂，入门学习曲线陡峭，大量电子相关专业学生因缺乏实操机会而难以跨过求职门槛；

• 另一方面，企业急需既理解测试原理又能快速上手的工程师，传统培训模式往往重理论轻实践，导致学员在实际配置测试参数（如Timing时序设置、Levels电平调节）时频频失误，甚至引发批量性芯片失效风险。

在此背景下，本次公开课以工业级93K测试机台与Smartest软件为核心载体，旨在搭建从理论认知到实战操作的桥梁，帮助学习者突破“纸上谈兵”的困局。

本次公开课将聚焦93K测试系统的基础架构与Smartest软件的核心操作逻辑。课程首先解析93K测试机的硬件组成与信号通路设计，阐明引脚定义、电平规范、时序控制三大参数对芯片功能测试的决定性影响；随后通过仿真环境演示Device Directory的创建流程，并手把手指导Functional Test（功能测试项）的基础配置。

我们相信，通过两小时的系统导览，学员不仅能构建ATE测试的底层认知框架，更将掌握企业级测试规范的设计思维，为后续深入学习或职业转型奠定关键基石。

公开课时间：

​2025年6月29日星期日晚19：00 

直播方式：

腾讯会议 扫码入会

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一、课程介绍

本课程主要分为以下五个部分；

第一部分：

1.93K测试系统介绍（2课时）

2.Smartest软件介绍（2课时）

3.Pin Configuration介绍（2课时）

4.如何设置Levels（2课时）

5.如何设置Timing（2课时）

6.Part1 Offline实验练习（2课时）

第二部分：

7.Vectors/Pattern介绍（2课时）

8.Loadboard Calibration介绍（2课时）

9.如何创建一个Testflow（2课时）

10.Part2 Offline实验练习（2课时）

第三部分：

11.Universal Test Method介绍（2课时）

12.DC Testing介绍（2课时）

13.Digital Debugging介绍（2课时）

14.Test Method and Test Hardware Debugging介绍（2课时）

15.Part3 Offline实验练习（2课时）

第四部分：

16.Data Logging与量产测试执行介绍（2课时）

17.Device Characterization介绍（2课时）

18.Shmoo与Data Analysis工具介绍（2课时）

19.Part4 Offline实验练习（2课时）

第五部分：

20.Pin Margin工具介绍（1课时）

21.X-Mode介绍（1课时）

22.Multiport介绍（1课时）

23.93K测试Pattern转换（1课时）

24.Part5 Offline实验练习（2课时）

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二、课程内容

本课程总共规划44个课时。其中第一到第二部分共20个课时，第三~第四部分共18个课时，第六部分约6个课时。

课程的第一部分主要介绍93K测试系统与Smartest软件，包括93K测试系统的硬件陪住与Smartest软件框架，另外还介绍了如何设置Pin Configuration、Levels与Timing。

第二部分主要介绍Vectors/Pattern，还详细介绍了如何在Smartest软件中快速建立一个Testflow。

第三部分主要介绍DC测试与Test Method，还介绍了DC测试的调试环境与调试工具。

第四部分主要介绍Device Characterization相关内容，包括Smartest自带的Shmoo与数据分析工具，另外还详细介绍了Data Logging与量产测试程序执行相关的内容。

第五部分主要介绍Pin Margin工具、X-Mode以及Multiport相关内容，另外还介绍了93K测试Pattern的转换方法与常用工具。

其中每个部分最后一个小节都安排了Offline上机实验练习，帮助大家理论联系实践，将课堂上学到的内容融会贯通。

Offline实验练习安排：

1.在Smartest软件环境中创建一个 Device Directory，查看生成的Device Directory的结构；定义pins、levels、timing，验证所设置的timing；

2.在Smartest软件环境中打开并编辑一个Pattern，创建一个Testflow，插入一个functional测试项、一个continuity测试项、一个leakage测试项；

3.在Smartest软件环境中创建一个project和一个class，添加基于Test method的测试项到Testflow中，添加基于PPMU的DC测试项，添加基于DPS的DC测试项；

4.加载并修改之前建立好的Testflow，设置Data Logging，添加Characterization测试项，使用Shmoo工具、数据分析工具进行简单的调试，并创建一个量产测试程序；

5.加载并修改之前建立好的Testflow，设置并执行Pin Margin工具；使用常用的工具对93K测试Pattern进行转换练习；

三、面向对象

1.对芯片生产测试主要是ATE测试感兴趣，但苦于无法入门的同学。

2.大学阶段是通信、自动化、电子信息技术、计算机等电子相关专业，毕业后想从事半导体行业工作的同学。

3.非本方向但是对芯片ATE测试感兴趣，想转行做ATE测试的同学。

4.学习过杰哥第一阶段ATE测试基础课程的同学。

四、讲师资质

讲师硕士毕业于上海交通大学自动化系，毕业后在德州仪器上海研发中心从事芯片ATE测试工作超过5年，目前在国内一家AI芯片企业继续从事芯片ATE测试技术专家与管理相关工作。

讲师在芯片ATE测试领域深耕十年，累计超过10款以上不同芯片项目从研发到大规模量产的成功经验。​

五、公开课与试听课

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