ATE:ATE是Automatic Test Equipment的缩写,根据客户的测试要求.图纸及参考方案,采用MCU.PLC.PC基于VB.VC开发平台,利用TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技术开发.设计各类自动化测试设备. BIST:BIST是在设计时在电路中植入相关功能电路用于提供自我测试功能的技术,以此降低器件测试对自动测试设备(ATE)的依赖程度.BIST技术的快速发展很大的原因是由于居高不下的ATE成本和电路的高复杂度.现在,高度集成的电路被…
Logic BIST is crucial for many applications, in particular for life-critical and mission-critical applications. Logic BIST不需要在ATE上进行测试,减小了成本,但是电路本身是可能存在问题的,导致测试逻辑有问题而且增加了逻辑. Basic concepts and design rules of logic BIST Test pattern generation(exhaus…