ATE:ATE是Automatic Test Equipment的缩写,根据客户的测试要求.图纸及参考方案,采用MCU.PLC.PC基于VB.VC开发平台,利用TestStand&LabVIEW和JTAG/Boundary Scan等技术开发.设计各类自动化测试设备. BIST:BIST是在设计时在电路中植入相关功能电路用于提供自我测试功能的技术,以此降低器件测试对自动测试设备(ATE)的依赖程度.BIST技术的快速发展很大的原因是由于居高不下的ATE成本和电路的高复杂度.现在,高度集成的电路被…
While JavaScript has a garbage-collected heap, WebAssembly has a linear memory space. Nevertheless using a JavaScript ArrayBuffer, we can read and write to WebAssembly’s memory space. lib.rs: #[macro_use] extern crate cfg_if; extern crate wasm_bindge…