scan cell有两种不同的input: 1)data input:由电路的combinational logic驱动: 2)scan input:由另一个scan cell驱动,从而形成scan chain: 在normal/capture mode下,data input来驱动output: 在shift mode下,scan input来驱动output: 几种scan_cell:muxed-D scan,clockd-scan,level-sensitive scan design(L…

在scan stitch之后,scan synthesis就已经完成, Scan extraction主要用来从scan design中extracing所有的instance,来保证scan chain的完整性. 并保证所有的design change都整合到scan design. Scan Verificaiton 1)在shift operate中的hold time violation,如果两个scan cell是同时钟,需要由CTS来保证clock skew有一个 minimum的值…

一个典型的scan实现的flow: clock mux和一些rst,在Scan中都被bypass掉,是不能测到的.所以DFT的test coverage一般就在97%或98%. scan design rule checking and repair: 可以在presynthesis RTL design或者postsynthesis gate-level design上进行, 经过scan repair之后的design,称为testable design. scan synthsis是将一个…

Testability用来表征一个manufactured design的quality. 将testability放在ASIC前端来做,成为DFT(Design For Test),用可控(controllable)可观(observable)来表征. DFT的实现的两个大方向:ad hoc和structure. 1)ad hoc:利用良好的设计习惯,来保证testability.减少无关逻辑,异步逻辑,增加可控可查点. 2)structured:更加系统,自动的方法.包括三个方法: scan…

INTEST scan指的是对IP 内部的scan cell的扫描测试,针对IP内部的flip-flop进行shift/capture的操作.和INTEST SCAN 对应的就是EXTEST SCAN, 顾名思义,所指的也就是IP之间的glue logic的SCAN CELL的测试.这部分SCAN CELL 包括了IP之间的flip-flop以及IP的input的第一级flip-flop,这主要是因为IP的第一级flip-flop在做INTEST测试时只能用于shift data,并不能进行ca…

intest scan的一些基本知识.INTEST scan指的是对IP 内部的scan cell的扫描测试,针对IP内部的flip-flop进行shift/capture的操作.和INTEST SCAN 对应的就是EXTEST SCAN, 顾名思义,所指的也就是IP之间的glue logic的SCAN CELL 的测试.这部分SCAN CELL 包括了IP之间的flip-flop以及IP的input的第一级flip-flop,这主要是因为,IP的第一级flip-flop再做INTEST测试的时…

JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的简称,JTAG的两个标准IEEE 1149.1(2001)和IEEE 1149.7(2009). JTAG中主要包含两部分内容:TAP(TEST ACCESS PORT)和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE. 边界扫描的基本思想是:在靠近芯片输入输出引脚处,增加一个移位寄存器单元,称为边界扫描寄存器(Boundary-Scan Register cell) 在芯片处在debug模式下时,这些边界扫描寄存器可以将芯片和外围…

在pseudo-random test中,由于random pattern resistant的特性,fault coverage不是sufficient的, 所以会有一些办法来进行coverage的提高: 1)test point insertion; 2)mixed-mode BIST; 3)hybrid BIST; 前两种是in-field coverage enhancement,后一种是manufacturing coverage enhancement Test point inse…

DFT测试中,最重要的部分还是sequential circuit的内部状态的测试. 起初ad hoc的方法用来提高testability,可以提高局部的coverage,但并不是一个系统性的方法. structure的DFT方法,scan design被提出. ah hoc的方法主要是利用一些guide line和practice的经验来replacing bad design,主要的技术有: 1)insert test point; 2)avoid async set/reset for s…

以前使用iwconfig来配置和获取wireless的信息,目前openwrt已经废弃这种方式,采用 iwinfo 和 iw 命令来进行替代. iwinfo的使用方法如下: root@hbg:/# iwinfo -hUsage:        iwinfo <device> info                        // 查看设备信息        iwinfo <device> scan                       // 扫描周围ssid      …