JTAG协议制定了一种边界扫描的规范,边界扫描架构提供了有效的测试布局紧凑的PCB板上元件的能力.边界扫描可以在不使用物理测试探针的情况下测试引脚连接,并在器件正常工作的过程中捕获运行数据. SoC FPGA作为在同一芯片上同时集成了FPGA和HPS的芯片,其JTAG下载和调试电路相较于单独的FPGA或ARM处理器都有一些差异,但是同时两者又有紧密的联系.AC501-SoC开发板上的JTAG链同时连接了FPGA和HPS.使用时,仅需一个JTAG链路,就能同时调试FPGA和HPS.FPGA和HPS

在初次的cpld电路设计的时候,遇到了这样的一个问题,整个系统是3.3V的系统,选用的cpld是XC9536-10VQ44C,芯片供电电压5V.他的io可以配置成3.3V和5V两种形式,因此,选用的时候,io口配置成了3.3V如下图,问题就有了,那在设计jtag的时候,上拉电阻应该上拉到那个电压呢?实验证明,jtag应该上拉到与io口相同的电平上.而上拉到供电电压的现象并不是损坏芯片,而是导致不能正常下载程序,具体到软件上的显示就是不能正确读出"Device IDCODE ".几幅关键

无论是客户反馈,还是自己亲身经历,USB-Blaster不能下载配置FPGA的情况时有出现.究其原因,大致有如下几条: 1. FPGA器件上的JTAG相关引脚出现故障: 2. USB-Blaster坏了: 3. 10针JTAG线缆没有压制好. 其中第1条给我们带来的损害最为严重,那么应该怎样规避呢? 内容   故障1的现象   JTAG接口的TCK.TMS.TDO或TDI,与GND短路. 原因分析 我们经常为了图方便,随意带电插拔JTAG下载口.尽管在多数情况下JTAG相关引脚安然无恙,但是不能

首先要了解JTAG管脚相关定义,具有JTAG口的芯片都有如下JTAG引脚定义(是相对芯片): TCK——测试时钟输入: TDI——测试数据输入: TDO——测试数据输出: TMS——测试模式选择,TMS用来设置JTAG口处于某种特定的测试模式. 可选引脚TRST——测试复位,输入引脚,低电平有效.   1.大多数正常情况下,一个JTAG上只有一个设备,接法简单许多,只要对号入座就可以,图1 2.如果多个设备都需要用到JTAG时,可以串起来用,串的时候注意: (1).驱动能力问题,线路越长,想必损

一.JTAG模式 这种模式一般有10pin的.14pin的和20pin的,尽管引脚数和引脚的排列顺序不同,但是其中有一些引脚是一样的.值得注意的是,不同的IC公司会自己定义自家产品专属的Jtag头,来下载或调试程序. Test Clock Input (TCK) -----强制要求1:TCK在IEEE1149.1标准里是强制要求的.TCK为TAP的操作提供了一个独立的.基本的时钟信号,TAP的所有操作都是通过这个时钟信号来驱动的. Test Mode Selection Input (TMS)

SPI 全称及由来:SPI接口的全称是"Serial Peripheral Interface",意为串行外围接口,是Motorola首先在其MC68HCXX系列处理器上定义的. 使用方法:SPI接口主要应用在EEPROM,FLASH,实时时钟,AD转换器,还有数字信号处理器和数字信号解码器之间. 工作模式:SPI接口是以主从方式工作的,这种模式通常有一个主器件和一个或多个从器件,其接口包括以下四种信号: (1)MOSI – 主器件数据输出,从器件数据输入 (2)MISO – 主器件数

GPIO_InitTypeDef GPIO_InitStructure; RCC_APB2PeriphClockCmd(RCC_APB2Periph_GPIOB|RCC_APB2Periph_GPIOC|RCC_APB2Periph_AFIO, ENABLE);  /********************** 1.执行端口重映射时,复用功能时钟得使能:RCC_APB2Periph_AFIO  2.  &1.GPIO_Remap_SWJ_Disable: !< Full SWJ Disabl

现象 CPU: STM32107VC 用JLINK 烧写程序时出现NO Cortex-m device found in JTAG chain 如图无法查找到硬件就是CPU 提示1:NO Cortex-M device found inJTAG chain.please check the JTAG cable and the connected devices     提示2:error:flash download failed-target DLL has been cancelled 原

处女座,为了板子走线美观,拉线方便,在项目量产前,还更改了原来外设的IO口,埋头苦干一天,移植ok,发现PB3一直不听使唤,好,加班检查代码,检查初始化,时钟,IO对应,然后试PCB板,是否短路,断路等等等,试遍了,纹丝不动,拉不高也拉不低...这是为什么呢,百度一下,才发现,PB3是JTAG口之一,需要把IO重映射为普通IO口使用,于是看着大大神们的帖子,回答,代码中,加入了以下两句话: RCC_APB2PeriphClockCmd(RCC_APB2Periph_AFIO, ENABLE);

同志们,根据ALTERA官方FAE(现场应用工程师)的强烈建议,请注意不要随意带电插拔你的JTAG下载接口,否则会损坏FPGA芯片的JTAG口信号管脚.现象:在排除了下载线的问题后,还是不能访问FPGA的JTAG口,那么很有可能你的FPGA芯片的JTAG口已经损坏.此时请用万用表检查TCK,TMS,TDO和Tdi是否和GND短路,如果任何一个信号对地短路则表示JTAG信号管脚已经损坏.原因分析:我们经常为了方便,随意插拔JTAG下载口,在多数情况下不会发生任何问题.仍然有很小的概率因为热插拔而产

  在调试智能钥匙连续开锁出现故障的问题排查过程中,为了对比模拟开关TS5A3166对于开锁数据通信的影响,尝试短接模拟开关的输入输出脚,未曾想乌龙了一把,错把DC-DC芯片输入输出短接了(两者都是SOT23-5封装). 接下来一上电发现直流电源出现短路提示,意识到电源系统短路了.DC-DC部分电路如下图. 那么问题来了,DC-DC输入输出连在一起,换句话说就是DC-DC输出端加电压,为什么会造成电源芯片烧毁呢? 如上问题要从DC-DC芯片的内部结构说起,如下图所示为TI公司DC-DC转换器TP

1. STM32F103 ADC 本例使用STM32F103芯片的PA1引脚测试模拟输入的电压值. 查看文档<STM32F103X.pdf>第31页,引脚定义图: 得知PA1使用ADC1的通道1. 查看文档<STM32F103X.pdf>第13页,时钟树图: 得知ADC1可2,4,6,8分频,又ADC输入时钟不得超过14MHZ(参见STM32参考手册RM0008第11章ADC). //初始化ADC //这里我们仅以规则通道为例 //我们默认将开启通道0~3 void Adc_Ini

/** * Battery level conversion from ADC to a percentage: * * The maximum ADC value for the battery voltage level is 511 for a * 10-bit conversion. The ADC value is references vs. 1.25v and * this maximum value corresponds to a voltage of 3.75v. * * F

yxr注: 主要zt,附上自己的心得如下: 1)反观SVF文件,除了设置必要的条件之外(初始条件和TIR等四条命令),真正的运行命令就两条,SIR向JTAG TAP状态机的IR寄存器送命令,SDR往JTAG TAP状态机的DR寄存器送数据,在写入的时候,送入的数据有效,在读取的时候,送数据同时输出的数据有效. 这样的写法及计算麻烦,可读性也差.为了方便使用,SVF引入了TIR.HIR.TDR和HDR四条指令. TIR是在SIR前面添加数据,比如,操作器件是第二个,那么第一个器件的数据用TIR添加

如果我们的板子上只留了4个接口:V3.3,SWDIO,SWDCLK,GND.那么和JTAG的连接关系参见下图: dd400cf22b5c01e57a6c9e198d5383a0_189.jpg (0 Bytes, 下载次数: 0) 下载附件 2010-12-14 22:54 上传   注意缺口方向.然后GND可以接左边任何一个pin(除了最底下这个PIN). 同样的,某些非官方销售的JLink也是只提空4线SWD,连接思路一样.

FPGA下载的三种方式:主动配置方式(AS)和被动配置方式(PS)和最常用的(JTAG)配置方式: AS由FPGA器件引导配置操作过程,它控制着外部存储器和初始化过程,EPCS系列.如EPCS1,EPCS4配置器件专供AS模式,目前只支持 Cyclone系列.使用Altera串行配置器件来完成.Cyclone期间处于主动地位,配置期间处于从属地位.配置数据通过DATA0引脚送入 FPGA.配置数据被同步在DCLK输入上,1个时钟周期传送1位数据. PS则由外部计算机或控制器控制配置过程.通过加强

经实际测试 SWD最少接线方法: 1.VTref与Vsupply短接 2.JLINK的SWDIO与目标板SWDIO相连 3.JLINK的SWCLK与目标板SWCLK相连 4.JLINK任意一个GND与目标板任意一个GND相连 JTAG的最少接线方法: 1.VTref与Vsupply短接 2.JLINK的TDI与目标板TDI相连 3.JLINK的TMS与目标板TMS相连 2.JLINK的TCK与目标板TCK相连 2.JLINK的TDO与目标板TDO相连 4.JLINK任意一个GND与目标板任意一个

Debug and trace functions are integrated into the ARM Cortex-M4. Serial wire debug and trace functions are supported in addition to a standard JTAG debug and parallel trace functions. The ARM Cortex-M4 is configured to support up to eight breakpoints

很多时候,一个电压不仅仅需要定性(高电平或者低电平),而且要定量(了解具体电压的数值).这个时候就可以用到模数转换器(ADC)了.这次的内容是测量开发板搭载的滑动变阻器(VR1)的电压,然后把ADC转换的结果通过UART打印出来.同时,也简单介绍了校准的方法. SAM4E芯片中,ADC是由AFEC管理的.同时,AFEC可以使用一个多路复用器以选择需要转换的信号的通道,也可以通过平均多次ADC转换的结果以提高转换精确度. 一. 电路图 通过顺时针方向旋转该变阻器,PB1引脚电压将变大,其电压变化范

本文转自:http://www.topeetboard.com iTOP-4412核心板使用的电源管理芯片是三星专门针对4412研发的S5M8767,8767提供9路BUCK和28路LDO输出,每路电压的大小可以通过软件进行设置.S5M8767的驱动位于内核drivers/regulator/s5m8767.c,CPU是通过I2C总线来控制它.S5M8767注册到内核里面的regulator模块.Regulator模块是内核中用于控制系统中某些设备的电压/电流供应,在嵌入式系统(尤其是手持设备)

JTAG是JOINT TEST ACTION GROUP的简称,JTAG的两个标准IEEE 1149.1(2001)和IEEE 1149.7(2009). JTAG中主要包含两部分内容:TAP(TEST ACCESS PORT)和BOUNDARY-SCAN ARCHITECTURE. 边界扫描的基本思想是:在靠近芯片输入输出引脚处,增加一个移位寄存器单元,称为边界扫描寄存器(Boundary-Scan Register cell) 在芯片处在debug模式下时,这些边界扫描寄存器可以将芯片和外围