当前,随着中国集成电路产业的高速发展,芯片测试作为确保产品良率与可靠性的关键环节,其技术人才缺口日益凸显.尤其在测试设备操作层面,行业普遍面临两大痛点: 一方面,高端ATE测试平台(如93K系统)操作复杂,入门学习曲线陡峭,大量电子相关专业学生因缺乏实操机会而难以跨过求职门槛: 另一方面,企业急需既理解测试原理又能快速上手的工程师,传统培训模式往往重理论轻实践,导致学员在实际配置测试参数(如Timing时序设置.Levels电平调节)时频频失误,甚至引发批量性芯片失效风险. 在此背景下,本次公开